Atomar kraft mikroskopi

test

Vi følger PhD-studerende Jes Dreiers brug af atomar kraft mikroskopi i forsøget på at karakterisere pollen fundet på en 5300 år gammel mumie, den såkaldte Ötzimand.
Mikroskoperingen skal være med til at fastslå Ötzimandens herkomst

I 1986 gik Nobel prisen i fysik til Gerd Binnig og Henrich Rohrer fra IBM's forskningslaboratorium i Zürich for deres udvikling af Scanning Tunneling Mikroskopet (STM) nogle år tidligere. Og det var fuldt fortjent!
STM/AFM mikroskopet gjorde det pludseligt muligt at se nanostrukturer direkte, og STM har sammen med Atomic Force Mikroskopet (AFM) - som de to nobelpristagere udviklede i 1986 - revolutioneret vores evne til at se og manipulere med atomer i overfladen af materialer. Mikroskoperne kan endda følge kemiske reaktioner på overflader live - mens tingene sker!  STM og AFM kaldes med en fælles betegnelse for Scanning Probe Mikroskoper (SPM).

Et Atomic Force Mikroskop (AFM) er en fætter til det mere kendte STM mikroskop, og de grundlæggende principper er faktisk også de samme.

AFM er overlegent i nogle sammenhænge, fordi mikroskopet kan undersøge en plan overflade af et hvilket som helst materiale, mens STM mikroskopi kræver, at overfladen kan lede en elektrisk strøm. Som teknologien de seneste år har udviklet sig har det vist sig, at opløsningsevnen i nogle tilfæde endda kan være lige så høj som med STM.